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研究人员用显微镜分析半导体晶圆表面
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研究人员用显微镜分析半导体晶圆表面
这张图片展示了一位研究人员正在使用显微镜对半导体晶圆的表面进行分析。半导体晶圆是先进半导体技术的关键组成部分。在半导体行业中,为了确保产品质量,需要运用各种技术和设备,如先进的显微镜技术、检测和测量手段,对晶圆表面的物理性质、原子结构等进行细致的检查和控制,以优化工艺流程和提升器件性能。
素材ID:
884774005
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格式:
JPG
作者:
Ratchada
最大分辨率:
7534 x 2999px
最大输出:
63.79 x 25.39cm (300dpi) | 265.78 x 105.80cm (72dpi)
关键词
检测
质量
测量
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电子
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