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会员专享工程实验室中的一排高度规，平板上的卡尺高度规并测量表面磁体上的产品尺寸

在工程实验室中，有一排高度规，包括表面平板上的卡尺高度规，用于测量表面磁体上的产品尺寸，涉及到精密测量和工业制造等领域。

素材ID：715293618
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格式：JPG
作者：Apicha
尺寸：
S1000 x 666px · 35 x 23cm · 72dpi
M2300 x 1533px · 81 x 54cm · 72dpi
L4000 x 2666px · 33 x 22cm · 300dpi
F6000 x 4000px · 50 x 33cm · 300dpi

关键词

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