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用于实验室集成电路测试的现代探针台设备及分析晶粒效应和色调
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用于实验室集成电路测试的现代探针台设备及分析晶粒效应和色调
这是一款用于实验室集成电路测试的现代探针台设备,能够对集成电路进行精确测量和研究,分析晶粒效应及相关色调,在半导体产业、科学研究等领域发挥着重要作用,有助于提高生产质量和推进技术发展。
素材ID:
319567854
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格式:
JPG
作者:
Valeriy
最大分辨率:
4185 x 2791px
最大输出:
35.43 x 23.63cm (300dpi) | 147.64 x 98.46cm (72dpi)
关键词
传感器
测量
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